半導体検査装置部品
(コンタクトプローブ関連製品) Components For Semiconductor Inspection Equipment

Inspection characteristics

検査特性

狭ピッチ

109狭ピッチ

狭ピッチユニット

主に200μmピッチ以下の半導体テストユニットを指し、半導体組み立て前のウエハーテスト用検査治具に用いられます。プローブ先端位置、突出量に精度が必要であり、設計・製造には高い技術が求められますニッパツではプローブヘッドと呼ばれるプローブ保持部を製作しております。

高周波

電磁界解析ソフト(HFSS)

電磁界解析ソフト(HFSS)

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多ピン解析(例)

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通過特性(S21)

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反射特性(S11)

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TDR

20GHz以上の高周波測定では測定治具の影響も無視出来なくなるため、専用の測定治具を自社開発して測定することで、測定時の影響を最小限に抑えています。

測定と解析の結果は一致しており、お客様から高く評価されています。
測定、解析したTouch stone file (.sNp)を送付することも可能ですので、お客様自身で周辺デバイスと接続したときの波形やEye-Patternを確認することが出来ます。

GND-Signal-GND配列の測定、解析を基本としていますが、多ピンやX-talkの解析もお客様の要望に合わせて柔軟に対応しております。

プローブは周辺デバイスの影響を受けるため、お客様の基板のインピーダンスと一致させることが重要になります。お客様から基板の情報をいただいて、プローブのインピーダンスを近づけることも可能ですので、ぜひご相談ください。